自石墨烯诞生以来，二维材料一直是材料研究的核心。与碳类似，硅也可以制成一层蜂窝状的原子。这种材料被称为硅烯，它具有一定的粗糙度，因为某些原子会高出其他原子。与由碳构成的超扁平材料石墨烯相比，硅烯表面的不规则会影响其电子性能。
现在，来自巴塞尔大学的物理学家已经能够精确地确定这种波纹结构。如他们发表于《美国国家科学院院刊》(PNAS)上的报告所述，他们的方法也适用于分析其他二维材料。
在这篇题为《原子力显微镜定量测定硅烯的原子屈曲》(Quantitative determination of atomic buckling of silicene by atomic force microscopy)的论文概述中，研究人员提到：
“与平面石墨烯材料相比，大多数二维材料具有明显的原子屈曲。在外延生长过程中，复杂的结构重组、缺陷和晶界在表面上共存，并伴有不同的波纹，使得使用传统衍射技术进行精确测定变得困难。”
“为了解决这一问题，我们使用原子力显微镜，通过共端针尖和数值计算来揭示结构、局部对称性和一个屈曲二维系统的典型缺陷。基于与位置相关的力谱，我们提供了一个关于这些阶段的屈曲大小的亚埃精度的确切定量结果。这种方法提供了以前所未有清晰度研究其他新兴屈曲材料结构和电子性能相互作用的机会。”
这种方法为理解二维材料世界结构与电子特性的关系提供了新的方向。
